JS-GDW002高低溫試驗箱

微型高低溫箱，IC用高 低溫測試箱特點及用途

    微型高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫；也可用于高溫、低溫的循環(huán)試驗。

《GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件》

《GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件》

《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》

《GJB 150A-2009 軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法》

《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法》

《JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》

《GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》

微型高低溫箱，IC用高 低溫測試箱主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍： -75、-40℃~150℃；

2、溫度波動度：≤±0.5℃；

3、溫度均勻度：≤±2℃ ；

4、內(nèi)腔尺寸（W×H×D)：300×300×225 （mm）；

5、外形尺寸（W×H×D)：460×910×785 （mm）；

6、電源： 220V 50Hz 2.5KW。